Patenttien ja hyödyllisyysmallien tietokannat

Patenttien ja hyödyllisyysmallien tietokanta Espacenet – Yleinen tietokanta patenttijulkaisujen ja teknisen informaation etsimiseen

Kansainvälisestä patentoinnin tietopankki Espacenetistä on löydettävissä patentti- ja hyödyllisyysmallitietoa yli 90 maasta. Espacenetin kautta voi etsiä tiettyä patenttijulkaisua, teknistä informaatiota, legal statusta tai käsittelyhistoriaa.

Espacenetissä on patenttijulkaisuja jopa 1800-luvun puolivälistä lähtien, mutta patentti- ja hyödyllisyysmallijulkaisujen ajallinen kattavuus vaihtelee maittain. Espacenetissä on mahdollista tehdä hakuja sekä maailmanlaajuisesti että virastokohtaisesti. Espacenetin kautta on myös mahdollista käyttää EPOn eurooppapatenttirekisteriä. Espacenetistä löytyvät myös suomalaiset patenttidokumentit ja tietoa suomalaisten hakemusten jatkamisesta ulkomailla.

Espacenetissä on mahdollista hakea maksuttomasti patenttijulkaisuja muun muassa avainsanahaulla tai etsimällä tietyllä hakemus-, julkaisu- tai prioriteettinumerolla. Espacenetin smart search -hakutoiminto tunnistaa isolla kirjoitetut sanat erisnimiksi ja luvut päivämääriksi sekä hakemusnumeroiksi. PCT -patenttijulkaisuja koskevassa WIPO-Espacenetissä ja eurooppapatenttijulkaisuja koskevasta EP-Espacenetissä on mahdollista suorittaa hakuja koko tekstistä, jolloin tietokannasta voi hakea sanoilla patentin selitystä ja vaatimuksia. Oikean patenttijulkaisun löydyttyä Espacenetistä, voi lisäinformaatiota etsiä kyseisen kansallisen viraston tietokannasta tai EP-rekisteristä.

Espacenet: http://fi.espacenet.com/

EP-rekisteri – Eurooppapatenttien statustiedot ja käsittelyhistoria

EPOn eurooppapatenttirekisteri sisältää kaikki eurooppapatentti-hakemuksia ja myönnettyjä eurooppapatentteja koskevat tiedot. Eurooppapatenttirekisterin kautta on mahdollista etsiä julkisia eurooppapatenttijulkaisuja koskevat tiedot, kuten esimerkiksi patentin tai hakemuksen statustiedot ja informaatiota patentin myöntämisprosessin kulusta sekä käsittelyhistoriaan liittyvät dokumentit.

EPOn eurooppapatenttirekisteristä voi hakea informaatiota muun muassa yhdestä tai useammasta sanasta koostuvalla vapaalla tekstihaulla tai päivämääräkohtaisella hauilla. Eurooppapatentti-julkaisuja on mahdollista hakea englannin, ranskan ja saksan kielisillä hakusanoilla.

EP rekisteri: https://register.epo.org/regviewer

PatInfo – Tietokanta koskien suomalaisia patentteja hyödyllisyysmalleja

Suomen julkiset patenttihakemukset vuodesta 1970 lähtien ja julkiset hyödyllisyysmallihakemukset vuodesta 1992 lähtien ovat löydettävissä kotimaisesta PatInfosta. Julkisista hakemuksista on saatavilla muun muassa tunniste- ja käsittelytiedot sekä lisäksi linkki varsinaiseen myönnettyyn patenttiin, mikäli patentti on myönnetty vuonna 2009 tai sen jälkeen. PatInfosta löytyvät myös vähimmäistiedot ei-julkisista patentti- ja hyödyllisyysmalli-hakemuksista, jotka on tehty vuoden 2011 jälkeen.

PatInfosta patentti- ja hyödyllisyysmallijulkaisuja on mahdollista etsiä maksutta erilaisilla hakutoiminnoilla. Julkaisuja on mahdollista etsiä esimerkiksi hakemalla keksijän nimellä, hakemuksen jättöpäivällä tai patentin myöntämispäivällä. PatInfossa on mahdollista käyttää useampia eri hakukriteerejä samanaikaisesti, mikä auttaa esimerkiksi hakutulosten rajaamisessa.

Patinfo: https://patent.prh.fi/patinfo/default2.asp

USPTOn tietokanta – USA patenttien ja julkiseksitulleiden hakemusten statustiedot ja käsittelyhistoria

Yhdysvalloissa haetuista ja myönnetyistä patenteista on mahdollista hakea tietoa myös USPTOn patenttitietokannasta, joka sisältää patenttijulkaisut vuodesta 1976 lähtien. USPTOn tietokanta pitää sisällään tarkat statustiedot ja hakemusten käsittelyhistorian. Patenttijulkaisuja on mahdollista hakea maksutta hakemus-, julkaisu-, rekisteröinti- tai PCT-numeroilla.

USPTOn tietokanta: http://portal.uspto.gov/pair/PublicPair

WIPO patentscope – PCT-hakemuksia koskeva tietokanta

WIPOn maksuton tietokanta sisältää kaikki PCT -patenttijulkaisut vuodesta 1978 lähtien ja lisäksi useiden maiden kansallisia patenttijulkaisutietoja, joiden ajallinen ulottuvuus vaihtelee maittain. Uusista hakemuksista on löydettävissä hakemuksen käsittelyhistoria dokumentteineen.

WIPOn tietokannasta on mahdollista etsiä maksuttomasti tietoa käyttämällä eri hakutoimintoja. Yksinkertaisessa haussa patentti-julkaisuja voi etsiä käyttämällä tiettyä hakusanaa tai useampia hakusanoja pilkulla toisistaan erotettuina. Myös esimerkiksi hakemusnumerolla ja keksijän tai hakijan nimellä on mahdollista etsiä patenttijulkaisuja.

WIPO patentscope: https://patentscope.wipo.int/search/en/search.jsf